本系統專為科研用戶設計，系統擴展性好，可以這對不同客戶性能需求更改系統配置，主要用途：測試納米顆粒散射光譜，通過散射光譜測試判斷顆粒大小和形狀。
可測試顆粒最小可達幾十納米，目前主要用戶有：南京大學，華東理工大學，中國科學院應用物理研究所，南京郵件大學等等。
采用nikon或olympus科研級熒光倒置顯微鏡，配合PI公司科研級光譜儀和CCD，采用光譜CCD取微區，可以同時測試多個顆粒。
系統性能：
1、顯微鏡配 10x，40x，60x物鏡
2、光譜分辨率：0.05nm
3、波長范圍：a、單顆粒光譜測試范圍：200-1100nm，整體測試波長范圍：200nm-12um
3、選配電動位移臺
成果展示：
